i1000在線測(cè)試介紹

一、i1000在線測(cè)試系統(tǒng)

1.完整的在線測(cè)試系統(tǒng):

     （1）模擬測(cè)試

     （2）上電測(cè)試

     （3）數(shù)字測(cè)試

     （4）與MDA相似的用戶接口與夾具設(shè)計(jì)，方便使用，容易學(xué)習(xí).

2.全新抗干擾設(shè)計(jì)，使數(shù)字測(cè)試方便快速.

3.使用安捷倫*新的在線測(cè)試技術(shù)方案. 

二、安捷倫i1000系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)

優(yōu)勢(shì)1 : a，治具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單     b，系統(tǒng)維護(hù)容易

優(yōu)勢(shì)2 : 完整的測(cè)試涵蓋率

        VTEP v2.0       （無矢量測(cè)試）

         Digital Test    （數(shù)字測(cè)試）

         OBP             （在線燒錄）

         Bscan           （邊界掃描）

         Functional Test （功能測(cè)試）

         CET             （拓展測(cè)試）

優(yōu)勢(shì)3: 簡(jiǎn)單易懂的用戶接口

PS:安捷倫i1000在線測(cè)試系統(tǒng) 提供完整的在線測(cè)試功能，擁有與一般MDA相似 的接口，可與常用的MDA夾具相容， 使用方便，學(xué)習(xí)快速.同時(shí)又可使用安捷倫在線測(cè)試的各項(xiàng)*新技術(shù)，是性價(jià)比極高的產(chǎn)線檢測(cè)設(shè)備。

三、 治具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單

1. i1000的壓床式治具與一般MDA所使用的壓床式治具兼容.

（1）治具的投資可以不用浪費(fèi)

（2）治具可以從很多家治具廠獲得

（3）人員的訓(xùn)練不用重來

2.i1000使用新的扁平電纜技術(shù)，在節(jié)省治具成本的同時(shí)可以提升數(shù)字測(cè)試的訊號(hào)質(zhì)量，達(dá)到與真空治具相當(dāng)?shù)慕Y(jié)果.

3.i1000的數(shù)字測(cè)試采用每信道可調(diào)的設(shè)計(jì)相較于傳統(tǒng)的  

  機(jī)臺(tái)制作治具與程序的時(shí)間大約可以節(jié)省半天至**.

四、系統(tǒng)維護(hù)方便容易

   單相電源即可啟動(dòng)         系統(tǒng)可由前方開啟          無須真空磊浦

   拉拖式的系統(tǒng)架構(gòu)                     方便組裝維修

五、完整的測(cè)試涵蓋率

VTEP v2.0 （無矢量測(cè)試） Digital Test    （數(shù)字測(cè)試） OBP （在線燒錄）

Bscan     （邊界掃描）   Functional Test （功能測(cè)試） CET （覆蓋擴(kuò)展測(cè)試）

·詳述每通道可調(diào)(Per-Pin Programmable)的好處

（1）真正的1:1結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)能夠讓i1000連續(xù)不斷的監(jiān)控驅(qū)動(dòng)邏輯。

（2）每一組驅(qū)動(dòng)邏輯電位都有一個(gè)接收電位。

1.進(jìn)行數(shù)字測(cè)試的時(shí)候，需要知道芯片那些管腳是3.3V， 哪些5V，或者2.5V，1.1V等等。

2.每信道可調(diào)的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)，每個(gè)通道都可以被設(shè)定為任何邏輯準(zhǔn)位，所以只要把電壓與接地點(diǎn)找出來，其余點(diǎn)都可以任意改變，如此對(duì)于做治具與程序的時(shí)間大約可以節(jié)省半天至**。

3.每信道可調(diào)的數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)還可以把任意的信道直接驅(qū)動(dòng)為高電位(drive high)或者低電位(drive low)，以便于調(diào)試。

每通道可調(diào)(Per-Pin Programmable)每通道可調(diào)的好處–A節(jié)省系統(tǒng)成本，以其它廠商提供的數(shù)字測(cè)試卡來看 每片卡片支持64個(gè)通道 但只可設(shè)定兩種邏輯位準(zhǔn)。

問題：

如果有10個(gè)管腳須同時(shí)進(jìn)行數(shù)字測(cè)試, 但有 4組不同的邏輯位準(zhǔn)設(shè)定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一張數(shù)字測(cè)試卡有64組通道請(qǐng)問總共需要幾張數(shù)字測(cè)試卡 ?

如果不是每通道可調(diào) : 將需要兩張數(shù)字卡總共需用128個(gè)數(shù)字通道來滿足10個(gè)通道的測(cè)試

每通道可調(diào)的好處：i1000是**具有這項(xiàng)優(yōu)勢(shì)的壓床ICTi1000數(shù)字測(cè)試卡、提供 64組獨(dú)立可以調(diào)整的通道、64組準(zhǔn)位與頻率都可以獨(dú)立調(diào)整。

問題：

如果有10個(gè)管腳須同時(shí)進(jìn)行數(shù)字測(cè)試, 但有4組不同的邏輯訊號(hào)設(shè)定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一張數(shù)字測(cè)試卡有64組通道，請(qǐng)問總共需要幾張數(shù)字測(cè)試卡 ?

答案：只需要一張i1000數(shù)字測(cè)試卡–減少花費(fèi) –治具制作較為簡(jiǎn)單

六、VTEP測(cè)試應(yīng)用

Agilent VTEP**技術(shù)的擴(kuò)展版本可以用于：

（1）超小型封裝

（2）倒裝芯片

（3）帶有*小或不帶引線框的器件

（4）以及裝有熱散器的器件

我們知道隨著PCBA上的器件封裝變得越來越小、越來越密集,電子制造商在檢測(cè)這些器件的信號(hào)針腳開路時(shí),面臨的挑戰(zhàn)也與日俱增。另外,為使傳統(tǒng)程序庫適應(yīng)生產(chǎn)測(cè)試,制造商還必須面對(duì)程序接入問題和產(chǎn)品上市所需時(shí)間（time-to-market）的壓力。鑒于此,越來越多的制造商更加傾向于采用無矢量測(cè)試解決方案,以*有效的方式保持*大的覆蓋范圍。

七、在線燒錄OBP

1.提供在線燒錄OBP（支持SPI格式及I2c格式）  透過i1000的圖形用戶界面

可以輕易的進(jìn)行在線刻錄程序設(shè)定。

Connect A0 –A2 SDA SCL Function Address Inputs Serial Data Serial Clock Input I2C 介面使用 SDATA 及 SCLK 兩個(gè)輸入腳位，稱為 I2C Bus，所以支援 I2C 介面的 IC 必須提供這 2 個(gè)輸入腳位。SDATA 為串列資料的輸入腳位、SCLK 為資料輸入 的同步信號(hào)腳位。

八、在線燒錄概念

I2C IC ( EEPROM AT24C02) 由於是串列傳送資料，每一位元必須與 SCLK同步，以保證資料能正確地被接收。藉由 SDATA 與 SCLK 信號(hào)間的時(shí)序差異， SDATA 線上的信號(hào)可分為命令 (Command) 及資料 (Data) 兩類。 I2C 通訊協(xié)定基本上是由發(fā)送端傳送 START COMMAND 啟動(dòng),隨后為一連串的DATA，而在傳送每一筆DATA (BYTE或WORD)后，接收端須回應(yīng)一ACK信號(hào)以作確定。 *后發(fā)送端傳送STOP COMMAND作為結(jié)束 Start and Stop Definition SDA SCL 、START,STOP COMMAND與DATA的區(qū)別 Output Acknowledge SCL 1 8 9 DATA IN DATA OUT START 、接收端回應(yīng)ACK ACKNOWLEDGE MWIRE Serial EEPROM基本概念:MWIRE Serial EEPROM主要使用 Chip Select(CS)、Serial Clock(CLK)、Data In(DI)、 Data Out(DO) 四個(gè)腳位 ,EEPROM是以 93為編號(hào)開頭之IC，例如93C46、 93C66等

九、邊界掃描（Boundary-Scan） 

2.完整的邊界掃描測(cè)試(Bscan Test)與其他功能測(cè)試

  測(cè)試 BSCAN 測(cè)試的條件 :

（1）待測(cè) IC 必須要支援 BSCAN 的測(cè)試 

（2）支援 BSCAN 測(cè)試的 IC 都會(huì)有一個(gè)由 IC 制造廠商所提供的對(duì)應(yīng)檔案 Boundary-Scan Description Language (BSDL)（IC的封裝語言描述）。

基本在線邊界掃描測(cè)試(In-circuit Bscan Connect Tests)

進(jìn)階邊界掃描測(cè)試互連測(cè)試(Advance Interconnect Bscan Test)

十、CET(Cover-Extend Technology)覆蓋擴(kuò)展測(cè)試技術(shù)

結(jié)合VTEP與邊界掃描的新技術(shù): CET

十一、覆蓋擴(kuò)展技術(shù)（CET）是如何進(jìn)行工作？

1.VTEP 傳感器位于被測(cè)元件（例如連接器）上，它能夠根據(jù)電容特性選取激勵(lì)信號(hào)。 

2.傳統(tǒng)的 VTEP 方法需要有測(cè)點(diǎn)（例如通過探針）來提供激勵(lì)信號(hào)。而覆蓋擴(kuò)展技術(shù)則是依靠邊界掃描器件來提供激勵(lì)信號(hào)。 

3.邊界掃描器件不需要每個(gè)引腳都放探針。 

4.根據(jù) IEEE 1149.x 標(biāo)準(zhǔn)（只使用測(cè)試接入端口），用戶可以向連接器提供必要的激勵(lì)信號(hào)。 

5.邊界掃描器件和 VTEP 傳感器之間的路徑缺陷（例如開路）將影響傳送到傳感器的激勵(lì)信號(hào)。 

6.ICT 系統(tǒng)對(duì)結(jié)果進(jìn)行捕獲和診斷，因此會(huì)檢測(cè)到缺陷。 

十二、覆蓋擴(kuò)展優(yōu)點(diǎn)（CET）

1.廣泛的測(cè)試范圍，不需要測(cè)點(diǎn) 

2.可節(jié)省夾具和 ICT 測(cè)試資源，降低測(cè)試成本 

3.通過降低應(yīng)力敏感型封裝（例如 BGA）上的應(yīng)力，提高電路板質(zhì)量 

十三、Library與3070共享VCL/PCF數(shù)字測(cè)試文件

Vector Control Language  向量控制語言（VCL).

Pattern Capture Format   模式捕獲格式(PCF).

是兩種3070用來描述digital library的語言.一般的數(shù)字測(cè)試需要使用預(yù)先設(shè)定好的數(shù)字測(cè)試文件(Digital LIB)以安捷倫3070所使用的PCF, VCL格式 編寫成的數(shù)字測(cè)試文件是目前世界上 數(shù)量*多的數(shù)字測(cè)試文件(累積超過20年)i1000可以直接使用這些文件

十四、i1000 操作界面_可選英文或中文

十五、i1000軟件: 程序發(fā)展及編輯界面

十六、好用的數(shù)字調(diào)適接口

十七、淺談產(chǎn)線常用的設(shè)備-MDA

MDA :常用的產(chǎn)線測(cè)試設(shè)備。主要用來發(fā)現(xiàn)在生產(chǎn)流程中所產(chǎn)生的錯(cuò)誤，比如在不同組件點(diǎn) 因?yàn)楹稿a** 產(chǎn)生無法預(yù)期的”開路”  或”短路”，或者是測(cè)試出 錯(cuò)誤的被動(dòng)組件 比如 電阻 電容 電桿等組件，如果加上HP/Agilent**的Test Jet技術(shù)MDA還可以用來測(cè)試IC，或連接器上的pin腳開路.但是MDA無法偵測(cè)出下面的幾種狀況即使板子可以通過MDA的檢測(cè) 不代表這塊板子可以順利上電啟動(dòng)運(yùn)作 這主要是因?yàn)镸DA不進(jìn)行上電測(cè)試.對(duì)于BGA芯片底下的數(shù)百個(gè) 甚至上千個(gè)的錫球 在經(jīng)過回焊爐后 是否與PC板焊接良好?目前MDA使用的Test Jet技術(shù)無法有效的測(cè)試BGA錫球的連接性對(duì)于覆晶BGA (Flip chip  BGA) Test Jet更是束手無策.

對(duì)于高密度的連接器Test Jet的測(cè)試效果也不佳.

十八、測(cè)試功能應(yīng)用

1.模擬測(cè)試（MDA）

開短路、電阻、電容、二極體、三極體、光耦元件、電容三端測(cè)試、保護(hù)二極體測(cè)試。

2.上電高壓量測(cè)

量測(cè)待測(cè)物各個(gè)狀態(tài)下的220AC工作輸出。

3.功能模擬遙控發(fā)碼測(cè)試

模擬遙控發(fā)碼IR給待測(cè)物、從而控制待測(cè)試物的工作狀態(tài)。

4.功能模擬溫度測(cè)試

模擬溫度給待測(cè)試、從而達(dá)到待測(cè)物的工作條件。

5.EEPROM 記憶測(cè)試

測(cè)試待測(cè)物在任何時(shí)刻停止當(dāng)前狀態(tài)、恢復(fù)后仍然是此工作狀態(tài)。

6.顯示器功能測(cè)試

測(cè)試待測(cè)物在各個(gè)顯示模式下的工作狀態(tài)及工作電壓。